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SPICE模型基带建模
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射频建模
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验证评估
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验证
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SPICE模型PDK标准单元库
先进低频噪声测试系统
晶圆级噪声测试精度和高测试带宽，最低测试噪声电流精度低至10-27A2/Hz。
覆盖10Ω到10MΩ高阻抗器件和低阻抗器件测试。
支持并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式，大幅提高测试效率和吞吐量。
适用于从成熟工艺到28nm、14nm、10nm、7nm和5nm等先进工艺节点。
内置功能强大的NoiseProPlus软件，支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。
最高DC电流精度：10pA
系统噪声电流精度：<10-27A2/Hz
典型噪声测试速度提高至
一个偏置条件仅需20s
MOSFET, SOI, FinFET, TFT, HV/LDMOS, BJT/HBT, JFET, Diode, Resistor, Packaged IC等器件
支持高精度、高测试吞吐率
并行测试
硬件架构硬件架构全新升级
提升系统集成性
配置触摸屏
直观显示，易于操作
芯片制造工艺研发、
质量评估、品质监控
半导体器件
SPICE模型开发
电路设计
性能优化
半导体物理和
材料研究
